Rasterelektronenmikroskopie
Die Rasterlelektronenmikroskopie nutzt einen gerichtetet Elektronenstrahl um die Oberfläche von Proben in sehr hoher Vergrößerung (mehrere 10.000-fach) darzustellen. Eine Vorraussetzung für Hochvergrößerung ist ein hohes Vakuum und damit vollständig trockene Proben. Diese werden typischerweise auf spezielle Probenhalter aus Aluminium geklebt und mit Kohlenstoff oder Edelmetallen beschichtet.